探傷是指探測金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷。常用的探傷方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷等方法。物理探傷就是不產(chǎn)生化學(xué)變化的情況下進行無損探傷。

　　五大常規(guī)方法是指射線探傷法、聲波探傷法、磁粉探傷法、渦探傷法和滲透探傷法。

　　1、射線探傷方法

　　射線探傷是利用射線的穿透性和直線性來探傷的方法。這些射線雖然不會像可見光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用殊的接收器來接收。常用于探傷的射線有x光和同位素發(fā)出的γ射線，分別稱為x光探傷和γ射線探傷。當(dāng)這些射線穿過(照射)物質(zhì)時，該物質(zhì)的密度越大，射線強度減弱得越多，即射線能穿透過該物質(zhì)的強度就越小。此時，若用照相底片接收，則底片的感光量就小;若用儀器來接收，獲得的信號就弱。因此，用射線來照射待探傷的零部件時，若其內(nèi)部有夾渣等缺陷，射線穿過有缺陷的路徑比沒有缺陷的路徑所透過的物質(zhì)密度要小得多，其強度就減弱得少些，即透過的強度就大些，若用底片接收，則感光量就大些，就可以從底片上反映出缺陷垂直于射線方向的平面投影;若用其它接收器也同樣可以用儀表來反映缺陷垂直于射線方向的平面投影和射線的透過量。由此可見，般情況下，射線探傷是不易發(fā)現(xiàn)裂紋的，或者說，射線探傷對裂紋是不敏感的。因此，射線探傷對氣孔、夾渣、未焊透等體積型缺陷zui敏感。即射線探傷適宜用于體積型缺陷探傷，而不適宜面積型缺陷探傷。

　　2、聲波探傷法

　　工業(yè)上常用數(shù)兆赫茲聲波來探傷。聲波頻率，則傳播的直線性強，又易于在固體中傳播，并且遇到兩種不同介質(zhì)形成的界面時易于反射，這樣就可以用它來探傷。通常用聲波探頭與待探工件表面良好的接觸，探頭則可有效地向工件發(fā)射聲波，并能接收(缺陷)界面反射來的聲波，同時轉(zhuǎn)換成電信號，再傳輸給儀器行處理。根據(jù)聲波在介質(zhì)中傳播的速度(常稱聲速)和傳播的時間，就可知道缺陷的位置。當(dāng)缺陷越大，反射面則越大，其反射的能量也就越大，故可根據(jù)反射能量的大小來查知各缺陷(當(dāng)量)的大小。常用的探傷波形有縱波、橫波、，前二者適用于探測內(nèi)部缺陷，后者適宜于探測表面缺陷，但對表面的條件要求。

　　3、 磁粉探傷方法

　　磁粉探傷是建立在漏磁原理基礎(chǔ)上的種磁力探傷方法。當(dāng)磁力線穿過鐵磁材料及其制品時，在其(磁性)不連續(xù)處將產(chǎn)生漏磁場，形成磁。此時撒上干磁粉或澆上磁懸液，磁就會吸附磁粉，產(chǎn)生用肉眼能直接觀察的明顯磁痕。因此，可借助于該磁痕來顯示鐵磁材料及其制品的缺陷情況。磁粉探傷法可探測露出表面，用肉眼或借助于放大鏡也不能直接觀察到的微小缺陷，也可探測未露出表面，而是埋藏在表面下幾毫米的近表面缺陷。用這種方法雖然也能探查氣孔、夾雜、未焊透等體積型缺陷，但對面積型缺陷更靈敏，更適于檢查因淬火、軋制、鍛、鑄、焊接、電鍍、磨削、疲勞等引起的裂紋。

　　磁力探傷中對缺陷的顯示方法有多種，有用磁粉顯示的，也有不用磁粉顯示的。用磁粉顯示的稱為磁粉探傷，因它顯示直觀、操作簡單、人們樂于使用，故它是zui常用的方法之。不用磁粉顯示的，習(xí)慣上稱為漏磁探傷，它常借助于感應(yīng)線圈、磁敏管、霍爾元件等來反映缺陷，它比磁粉探傷更衛(wèi)生，但不如前者直觀。由于磁力探傷主要用磁粉來顯示缺陷，因此，人們有時把磁粉探傷直接稱為磁力探傷，其設(shè)備稱為磁力探傷設(shè)備。

　　4、 渦探傷方法

　　渦探傷是由交電產(chǎn)生的交變磁場作用于待探傷的導(dǎo)電材料，感應(yīng)出電渦。如果材料中有缺陷，它將干擾所產(chǎn)生的電渦，即形成干擾信號。用渦探傷儀檢測出其干擾信號，就可知道缺陷的狀況。影響渦的因素很多，即是說渦中載有豐富的信號，這些信號與材料的很多因素有關(guān)，如何將其中有用的信號從諸多的信號中分離出來，是渦研究工作者的難題，多年來已經(jīng)取得了些展，在定條件下可解決些問題，但還遠不能滿足現(xiàn)場的要求，有待于大力發(fā)展。

　　渦探傷的顯著點是對導(dǎo)電材料就能起作用，而不定是鐵磁材料，但對鐵磁材料的效果較差。其次，待探工件表面的光潔度、平整度、邊介等對渦探傷都有較大影響，因此常將渦探傷用于形狀較規(guī)則、表面較光潔的銅管等非鐵磁性工件探傷。